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ZHONG SHAN HUIYUAN CRUSTAL ELECTRONIC TECHNOLOGY CO., LTD

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無源晶振的功能電阻介紹

Release date:2019-11-14

隨著大規(guī)模集成電路和顯示技術(shù)的發(fā)展, 數(shù)字多用表逐漸向小型化 、低功耗、低成本方向發(fā)展 ,數(shù)字多用表也明顯分為便攜式和臺式兩種 。無源晶振P07D -2 頻標(biāo)比對器 , 集頻差倍增和數(shù)據(jù)采集處理能于一身, 可以在“手動”和“自動”兩種模式之間切換 。該設(shè)備接口完整 , 內(nèi)置半自動檢定軟件 , 其程序編制簡單 ,極易實(shí)現(xiàn)自動化檢定。SS2900 系列程控開關(guān),可實(shí)現(xiàn) 14 、16 或 64 路信號選擇 ,可根據(jù)需要選用。PC 控制單元,選用華碩 U5 系列輕便型筆記本, 以便于實(shí)現(xiàn)機(jī)動計(jì)量 。

PC 控制單元與P07D -2 采用USB 連線進(jìn)行連接;P07D -2 與 SS2900 的連接采用 RS232 連線 。這樣連接計(jì)算機(jī)將 P07D -2 當(dāng)做硬件識別, 而 P07D -2內(nèi)置相應(yīng)接口程序 ,因此不需要進(jìn)行接口程序設(shè)計(jì), 系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)比較容易。

系統(tǒng)工作時(shí), 頻標(biāo)輸出標(biāo)準(zhǔn)頻率信號至頻標(biāo)比對器 ,與被檢計(jì)數(shù)器晶振頻率進(jìn)行比對測量 , 并經(jīng)由 P07D -2內(nèi)部程序處理運(yùn)算 ,得出要測量的結(jié)果。結(jié)果得出之后 ,儲存于 P07D -2 內(nèi)部儲存器, 可以通過計(jì)算機(jī)調(diào)用并打印 。系統(tǒng)利用 SS2901E ,實(shí)現(xiàn)對 16 臺計(jì)數(shù)器同時(shí)進(jìn)行檢定校準(zhǔn) ,該射頻程控開關(guān)采用新型繼電器作為轉(zhuǎn)換器件 ,通道間隔離度很高 ,可對某些有較高信號隔離要求的設(shè)備進(jìn)行計(jì)量 。

軟件系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用 SUING P07D -2 的[敏感詞]好處在于, 該設(shè)備有相應(yīng)的半自動測試軟件程序 。該程序配置有專用的指令系統(tǒng)。該指令系統(tǒng)是針對計(jì)數(shù)器檢定而設(shè)計(jì)的 ,指令簡單 、易讀 ,程序設(shè)計(jì)很方便。利用 WINDOWS XP 系統(tǒng)自帶的DOS 軟件就可以實(shí)現(xiàn)對設(shè)備的控制。電阻接線方式電阻測量接線方式有四線制 、兩線制。進(jìn)行小電阻和高精度測量時(shí) ,應(yīng)選擇帶四線制的電阻測量接線方式 。

針對無源晶振頻率老化問題 , 本文建立了一個(gè)非線性時(shí)變的預(yù)測模型 , 并用多層前向神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對模型進(jìn)行迭代逼近求解。對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析表明,該模型適合于多種類型晶體振蕩器的老化模式, 可較好地描述多種類型晶振的頻率老化過程 ,對頻率老化能作出有效的預(yù)測。模型的預(yù)測誤差小 ,具有較好的抗噪聲能力 。